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2024-11-12 -
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TF lab 2020非接触式涡流薄膜电阻测试仪允许在非接触模式下对导电薄膜进行手动单点测量和薄金属层的层厚测量。 紧凑的台式设备非常适合快速准确地测量最大 200 x 200 mm²（8 x 8 英寸）的样品。 除了测量薄的导电层外，还可以分析掺杂的晶片和导电聚合物。
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TF lab 2020非接触式涡流薄膜电阻测试仪允许在非接触模式下对导电薄膜进行手动单点测量和薄金属层的层厚测量。 紧凑的台式设备非常适合快速准确地测量最大 200 x 200 mm²（8 x 8 英寸）的样品。 除了测量薄的导电层外，还可以分析掺杂的晶片和导电聚合物。
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1410产品描述
2020SR非接触式单点薄层电阻测试仪是一种非接触式单点薄层电阻测量系统。该设备包含一个涡流传感器组，可将微弱电流感应到导电薄膜和材料中。样本中的感应电流会产生与测量对象的薄层电阻相关的电磁场。
