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NanoScan 2s Si/9/5狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪#技术规格

日期:2024-03-21浏览:88次

NanoScan 2s Si/9/5狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪


NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器,精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于大多数光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选功率测量功能等特征,且可在连续或kHz脉冲模式下工作,非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

 

光束尺寸20µm至~6mm

功率级范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或专业软件

 

PH00457

NS2s-Si/9/5-STD

狭缝扫描式光束轮廓分析仪:硅探测器,9mm孔径,5µm狭缝

 

PH00465

NS2s-Si/9/5-PRO

狭缝扫描式光束轮廓分析仪:硅探测器,9mm孔径,5µm狭缝

 

产品规格

产品名称:NanoScan 2s Si/9/5

传感器类型:Silicon Photodetector

光谱范围:190 to 1100 nm

狭缝尺寸:5 µm

孔径尺寸:9 mm

光束尺寸:20 µm to 6 mm

扫描头尺寸:83 mm

功率范围:10 nW to 10 W

通信:USB 2.0

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