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190nm-1100nm扫描式激光光束轮廓分析仪NanoScan 2s Si/3.5/1.8

日期:2024-03-21浏览:87次

NanoScan 2s Si/3.5/1.8 扫描式激光光束轮廓分析仪

 

NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器,精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征,且可在连续或kHz脉冲模式下工作,非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

 

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率级范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或专业软件

 

 

PH00456

NS2s-SI/3.5/1.8-STD

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪:硅探测器,3.5mm孔径,1.8µm狭缝

 

PH00464

NS2s-Si/3.5/1.8-PRO

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪:硅探测器,3.5mm孔径,1.8µm狭缝

 

产品规格

产品名称:NanoScan 2s Si/3.5/1.8

传感器类型:Silicon Photodetector

光谱范围:190 to 1100 nm

狭缝尺寸:1.8 µm

孔径尺寸:3.5 mm

光束尺寸:7 μm to 2.3 mm

扫描头尺寸:83 mm

功率范围:10 nW to 10 W

通信:USB 2.0

PH00456_-_471_Software_800w.jpg


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