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基础信息Product information
产品名称:

20µm至~6mm光束 狭缝扫描激光轮廓分析仪

产品型号:NanoScan 2s Si/9/5

厂商性质:经销商

所在地:深圳市

更新时间:2024-04-28

产品简介:

NanoScan 2s Si/9/5 20µm至~6mm光束 狭缝扫描激光轮廓分析仪通过其硅探测器,精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于大多数光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选功率测量功能等特征,且可在连续或kHz脉冲模式下工作,非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

产品特性Product characteristics
品牌Ophir价格区间面议
产地类别进口应用领域综合

NanoScan 2s Si/9/5 20µm至~6mm光束 狭缝扫描激光轮廓分析仪


通过其硅探测器,精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于大多数光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选功率测量功能等特征,且可在连续或kHz脉冲模式下工作,非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

 

光束尺寸20µm至~6mm

功率级范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或专业软件

 

PH00457

NS2s-Si/9/5-STD

狭缝扫描式光束轮廓分析仪:硅探测器,9mm孔径,5µm狭缝

 

PH00465

NS2s-Si/9/5-PRO

狭缝扫描式光束轮廓分析仪:硅探测器,9mm孔径,5µm狭缝

 

产品规格

产品名称:NanoScan 2s Si/9/5

传感器类型:Silicon Photodetector

光谱范围:190 to 1100 nm

狭缝尺寸:5 µm

孔径尺寸:9 mm

光束尺寸:20 µm to 6 mm

扫描头尺寸:83 mm

功率范围:10 nW to 10 W

通信:USB 2.0

 

NanoScan 2s Si/9/5 20µm至~6mm光束 狭缝扫描激光轮廓分析仪


使用NanoScan的狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪

 

扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术,通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分,将取样部分通过单点光电探测器测量强度,再通过扫描狭缝 / 小孔的位置,复原整个光斑的分布。

 

扫描式光束分析仪的优点 :

 

取样尺度可以到微米量级,远小于 CCD 像素,可获得较高的空间分辨率而无需放大;

 

采用单点探测器,适应紫外 ~ 中远红外宽范围波段;

 

单点探测器具备很高的动态范围,一个探头可同时适应弱光和强光分析。

 

 

 

扫描式光束分析仪的缺点 : 

 

多次扫描重构光束分布,不适合输出不稳定的激光;

 

不适合非典型分布的激光,近场光斑有热斑、有条纹等的状况。

 

扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系;在很多应用,如小光斑测量(焦点测量)、红外高分辨率光束分析等方面,扫描式光束分析仪具备du特的优势。

 


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