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NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪#优劣势对比

日期:2024-03-27浏览:87次


NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪,源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INCPHOTON INC 1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪,在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR 可提供完备的光束分析解决方案。


扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术,通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分,将取样部分通过单点光电探测器测量强度,再通过扫描狭缝 / 小孔的位置,复原整个光斑的分布。



扫描式光束分析仪的优点 
扫描式光束分析仪的缺点 
取样尺度可以到微米量级,远小于CCD像素,可获得较高的空间分辨率而无需放大;
多次扫描重构光束分布,不适合输出不稳定的激光;
采用单点探测器,适应紫外-中远红外宽范围波段;
不适合非典型分布的激光,近场光斑有热斑、有条纹等的状况。
适应弱光和强光分析;
扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系;在很多应用,如小光斑测量(焦点测量)、红外高分辨率光束分析等方面,扫描式光束分析仪具备du特的优势。




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