导电薄膜片状电阻成像 – EddyCus® map 2530SR

EddyCus® map 2530系列

EddyCus® map 2530系列在非接触模式下自动测量大型样品的薄层电阻，最大可达300 x 300 mm²（12 x 12英寸）。在手动定位样品后，设备会自动测量并显示整个样品区域的薄层电阻的精确图谱。测量设置允许轻松灵活地选择低于1分钟的快速测量时间或超过10万个测量点的高空间测量分辨率。

特征

技术：非接触式涡流

通过多点测绘成像

定位区域：300 mm x 300 mm

采样区域：300 x 300 mm

推荐的样品尺寸。1英寸到12英寸或25到300毫米

类型

片状电阻成像 – EddyCus® map 2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]

金属厚度成像 – EddyCus® map 2530MT [nm, µm, mm, mil]

电阻率和电导率成像 – EddyCus® map 2530RM [mOhm*cm, MS/m]

Anisotropy imaging – EddyCus® map 2530A (MD/TD)

湿涂层厚度和残余水分成像 – EddyCus® map 2530HF [%]

软件和设备控制

非常方便用户的软件

实时测绘

易于使用的统计分析选项

预先定义的测量和产品配方（尺寸、间距、阈值）。

线扫描、直方图和区域分析

黑色和彩色的图像编码

Csv和pdf输出

PC汇总和输出

3个用户级别

用于参数转换的材料数据库

边缘效应补偿

数据的存储和导入

输出数据集（例如，输出到EddyEva、MS Excel、Origin）。

片状电阻成像 – EddyCus® map 2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]